冷热循环冲击试验箱的试验条件的基本要素

  冷热循环冲击试验箱用于电子电器零元件、自动化零部件、通讯元件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、 航太、兵工业、BGA、PCB基扳、电子晶片IC、 半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。

  冷热循环冲击试验箱的温度冲击适用于可能会在空气温度发生急剧变化(指温度变化率大于10℃ /min)的地方使用的电子产品，也可作为一个环境应力筛选(ESS)试验，用来激发故障。温度冲击是以不大于Imin 的转换时间将产品依次暴露在高温区域和低温区域，并循环一定的次数按实际需要确定)，通常是为了揭示产品在低于温度变化速率只要试验条件不超过产品的设计极限)下出现的安全性问题和潜在的缺陷，而ESS试验一般按GJB1032进行，高温和低温的变化速率为5C/min，当温度变化速率大于10℃/min时，将使用温度冲击来替代环境应力筛选。

  那么冷热循环冲击试验箱的温度冲击实验条件的基本要素有哪些呢？杰瑞小编为您介绍：

  1)试验温度(高温、低温)：应尽量以反映产品预期使用情况的前提确定温度条件，确定方法如下：

  一是从冷热冲击试验箱的高、低温试验获得的试件温度响应来确定试验条件;

  二是根据产品预期工作和贮存的地理区域的气候数据来确定，地表极植可根据GJB150.3A - 2009、GJB150.4A - 2009和GJB150. 7A - 2009获得，不同高度的温度可从GJB1172. 12- 1991中查到;

  三是根据产品的非工作温度要求确定。

  2)高低温持续时间：

  一是高温持续时间：一方面通过产品在贮存高温中达到温度稳定的时间确定;一方面通过产品在日循环中达到zui高工作响应温度的时间确定;

  二是低温持续时间：产品在低温极值下达稳定时间确定。

  3)循环次数：对于暴露于温度急剧变化情况很小的产品，只进行一次温度冲击试验，而对于较频繁暴露于温度急剧变化情况的产品进行3次或3次以上冲击，冲击次数主要由产品预期使用事件次数确定。

  4)转换时间：一-般要求不大于1min。

  5)相对湿度：除产品有特殊要求对多孔渗水材料，如纤维材料需控制)外，-般不考虑控制相对湿度选定本试验和相应程序后，还应根据有关文件的规定、应力筛选要求以及为该程序提供的信息选定该程序所用的试验条件和试验技术。若有实测数据，则应使用实测数据。

  2、试验的程序选择。

  1)程序I恒定。主要用于揭示“温度急剧变化”对装备的影响，该试验中“温度急剧变化”要比单纯的高温试验和低温试验对产品的影响更重要。特别是要用“更严酷的温度变化”来评价电子产品的安全性或初始设计是否满足要求或必须用“极值温度”对产品进行考核时，均需采用程序。

  2)程序II循环。主要用于对真实环境进行模拟，因为高温值是随日循环全国1%工作极值相应温度及湿度日变化，见GJB1172.2- 1991)而变化的。